1.紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。2.薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。

3.涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

4.激光測厚儀：利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。

5.X射線測厚儀：主要應(yīng)用行業(yè)于有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

6.超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。